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otsuka LED表面劃痕檢查照明燈3A/3YG 型 光學(xué)測量儀
otsuka LED表面劃痕檢查照明燈3A/3YG 型 A型為燈泡顏色，YG型為黃綠色光。它可以抑制工人的眼睛疲勞，并且兼容各種檢查目標(biāo)顏色、材料和光澤度。
更新日期：2024-03-26 訪問量：930
otsukaLED檢查照明光源ML230F 光學(xué)測量儀
otsukaLED檢查照明光源ML230F 在檢查現(xiàn)場，使用室內(nèi)照明或工作照明的熒光燈進行檢查的情況較多，但有時無法確保適當(dāng)?shù)恼斩龋蛘哒斩冗^高。對工人來說是一種負(fù)擔(dān)。
更新日期：2024-03-26 訪問量：986
otsuka有機EL目視檢查燈EL270F 光學(xué)測量儀
otsuka有機EL目視檢查燈EL270F Modelite 系列是作為目視檢查照明而開發(fā)的，旨在減輕工人的眼睛疲勞和壓力。
更新日期：2024-03-26 訪問量：1009
shibuya高精度反射率測量裝置MSP-100 光學(xué)測量儀
shibuya高精度反射率測量裝置MSP-100 以未有的低成本實現(xiàn)微小區(qū)域、曲面和超薄樣品的高速、高精度測量
更新日期：2024-03-26 訪問量：1436
shibuya曲面反射率測量裝置MSP-100 光學(xué)測量儀
shibuya曲面反射率測量裝置MSP-100 以未有的低成本實現(xiàn)微小區(qū)域、曲面和超薄樣品的高速、高精度測量
更新日期：2024-03-26 訪問量：1259
shibuya反射率測量裝置MSP-100 光學(xué)測量儀
ccsawaki反射率/透射率測量的光源FOLS-05 FOLS-05是一種光纖輸出寬帶光源，通過將三種類型的LED元件組合成一根光纖來輸出它們。
更新日期：2024-03-26 訪問量：1307
日本p gauges光纖耦合LED光源LDS1007 光學(xué)測量儀
日本p gauges光纖耦合LED光源LDS1007 LDS1007是一款緊湊、輕便、低成本的LED光源，將光纖耦合高輸出LED與電源和驅(qū)動電路相結(jié)合。 無需調(diào)整，LED燈在電源打開后立即從光纖端輸出。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1072
koshin kogaku可調(diào)諧激光器KLS-201A系列 光學(xué)測量儀
koshin kogaku可調(diào)諧激光器KLS-201A系列 標(biāo)準(zhǔn)型號，除了O波段到U波段之外，還覆蓋1220nm波段（波長安裝分辨率：0.1nm）
更新日期：2024-03-25 訪問量：1302
koshin kogaku半導(dǎo)體激光光源KLS-601A系列 光學(xué)測量儀
koshin kogaku半導(dǎo)體激光光源KLS-601A系列 該產(chǎn)品是一種亞納秒Nd：YAG脈沖激光器，振蕩波長為1064 nm。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1145
koshin kogaku可調(diào)諧激光器KLS-601A系列 光學(xué)測量儀
日本optoquest微芯片激光器 該產(chǎn)品是一種亞納秒Nd：YAG脈沖激光器，振蕩波長為1064 nm。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1199
日本sena TFT透鏡表面檢查燈185LE-AL 光學(xué)測量儀
日本sena TFT透鏡表面檢查燈185LE-AL 高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1051
日本sena TFT面板目視檢查燈185LE-AL 光學(xué)測量儀
日本sena TFT面板目視檢查燈185LE-AL 高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1113
日本sena玻璃基板目視檢查燈185LE-AL 光學(xué)測量儀
日本sena玻璃基板目視檢查燈185LE-AL 高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1101
日本sena目視晶圓檢查燈185LE-AL 光學(xué)測量儀
日本sena目視晶圓檢查燈185LE-AL 高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1147
日本sena彩色濾光片檢查燈185LE-AL 光學(xué)測量儀
日本sena彩色濾光片檢查燈185LE-AL 高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1109
